«И» «ИЛИ»  
© Публичная Библиотека
 -  - 
Универсальная библиотека, портал создателей электронных книг. Только для некоммерческого использования!
Чернышев Александр Алексеевич
.

Александр Алексеевич Чернышев 97k

-

()

.
.
  • Чернышев А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. [Djv- 7.1M] Автор: Александр Алексеевич Чернышев. Производственное издание.
    (Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1988)
    Скан: AAW, OCR, обработка, формат Djv: pohorsky, 2017
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (3).
      Список сокращений (5).
      Список условных обозначений физических величин (6).
      Введение (9).
      Глава 1. Основы теории надежности (19).
      Глава 2. Виды внешних воздействии и их классификация (39).
      Глава 3. Механические воздействия (50).
      Глава 4. Климатические воздействия и агрессивные среды (65).
      Глава 5. Радиационные воздействия (72).
      Глава 6. Воздействие технологических факторов на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы (89).
      Глава 7. Воздействие технологических и эксплуатационных факторов при изготовлении и использовании аппаратуры (120).
      Глава 8. Виды и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (134).
      Глава 9. Виды испытании и система испытании на надежность (168).
      Глава 10. Прогнозирование надежности приборов и диагностика (193).
      Глава 11. Организационные особенности обеспечения надежной работы полупроводниковых приборов и интегральных микросхем в аппаратуре (208).
      Заключение (241).
      Список литературы (249).
Аннотация издательства: В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.