 А.А. Чернышев
 Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
 Москва: Издательство «Радио и связь», 1988

 ББК 30.14
 Ч-49
 УДК 621.396.6

 Редакция литературы по электронной технике

 Чернышев А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. - М.: Радио и связь, 1988. - 256 с.: ил.
 ISBN 2-256-00042-Х.
 В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
 Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.

 ББК 30.14

 КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
 Предисловие (3).
 Список сокращений (5).
 Список условных обозначений физических величин (6).
 Введение (9).
 Глава 1. Основы теории надежности (19).
 Глава 2. Виды внешних воздействии и их классификация (39).
 Глава 3. Механические воздействия (50).
 Глава 4. Климатические воздействия и агрессивные среды (65).
 Глава 5. Радиационные воздействия (72).
 Глава 6. Воздействие технологических факторов на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы (89).
 Глава 7. Воздействие технологических и эксплуатационных факторов при изготовлении и использовании аппаратуры (120).
 Глава 8. Виды и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (134).
 Глава 9. Виды испытании и система испытании на надежность (168).
 Глава 10. Прогнозирование надежности приборов и диагностика (193).
 Глава 11. Организационные особенности обеспечения надежной работы полупроводниковых приборов и интегральных микросхем в аппаратуре (208).
 Заключение (241).
 Список литературы (249).

 Производственное издание
 Александр Алексеевич Чернышев
 ОСНОВЫ НАДЕЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ