«И» «ИЛИ»  
© Публичная Библиотека
 -  - 
Универсальная библиотека, портал создателей электронных книг. Только для некоммерческого использования!
«Библиотека радиотехнолога»
.

«Библиотека радиотехнолога» 118k

-

()

Серия.
.
«библиотека радиотехнолога» на страницах библиотеки упоминается 2 раза:
* «Библиотека радиотехнолога»
* Литература. Универсальная: Серии, сборники
Выпуски:
* Бочкарев Б.А... Керметные пленки. (1975) Выпуск 7
* Концевой Ю.А... Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов. (1973) Выпуск 2
  • Бочкарев Б.А... Керметные пленки. [Djv- 3.5M] Авторы: Б.А. Бочкарев, В.А. Бочкарева.
    (Ленинград: Издательство «Энергия», 1975. - Серия «Библиотека радиотехнолога». Выпуск 7)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2012
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Введение (3).
      Глава первая. Принципы получения керметных пленок (5).
      Глава вторая. Свойства керметных пленок (21).
      Глава третья. Техника получения керметных пленок испарением материалов в вакууме (82).
      Глава четвертая. Постоянные керметные резисторы (120).
      Список литературы.
Аннотация издательства: В книге систематизированы сведения по керметным пленкам, использование которых в промышленности непрерывно растет. Подробно изложены принципы и техника получения керметных пленок, а также их свойства. Рассмотрено применение пленок на примере изготовления дискретных непроволочных резисторов.
Книга предназначена для инженерно-технических и научных работников, связанных с проблемами получения резистивных пленок.
.
  • Концевой Ю.А... Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов. [Djv- 6.6M] Авторы: Ю.А. Концевой, В.Д. Кудин.
    (Москва: Издательство «Энергия», 1973. - Серия «Библиотека радиотехнолога». Выпуск 2)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2013
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (3).
      Глава первая. Объекты, методы контроля и его организация (5).
      Глава вторая. Электрические методы контроля (27).
      Глава третья. Оптические методы контроля (63).
      Глава четвертая. Рентгеновские и электронно-микроскопические методы контроля (106).
      Список литературы (132).
Аннотация издательства: В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и электронно-микроскопические методы контроля технологии изготовления полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации технологического контроля при разработках и в производстве приборов.
Книга рассчитана на инженеров и технологов, занимающихся разработкой и производством полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также на студентов, специализирующихся в области физики и технологии полупроводниковых приборов.
.